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最終更新日:2017年1月17日
位相差顕微鏡(Phase contrast microscopy)に関する情報を集めている。 |
リンク |
位相差顕微鏡 |
図8 実際の顕微鏡における構成 ニコン(HP/2010)による『実際の顕微鏡における構成と調整』から |
原理 |
図5 位相差顕微鏡は直接光だけを操作する INOUE(HP/2010)による『顕微鏡の話』から 多くの場合に、回折光は1/4波長程度変化することが多い。そこで、位相板の1/4波長板によって直接光の波長の位相を変え、同時に位相板の減光フィルターによってその強度を弱める。その結果、回折光と直接光の位相と強度が適当な状態になり、回折光+直接光による試料の像のコントラストが強まる。 |
図3 顕微鏡の結像過程 図4 結像光と直接光と回折光の関係 図5 ダークコントラスト(逆位相) 図6 ブライトコントラスト(同位相) 図7 位相差観察の構成 ニコン(HP/2010)による『位相差観察の原理について』から 直接光の位相を1/4波長進めたり、または遅らせたりすることで、直接光と回折光の位相差が1/2波長〔ダークコントラスト(逆位相)〕、または0〔ブライトコントラスト(同位相)〕になるようにし、その干渉によって位相の変化を光の明暗として観察する。 |
図1 微分干渉(反射型)のシャー量 ニコン(HP/2010)による『微分干渉のシャー量とは』から ※微分干渉(DIC)プリズムを通った光は微妙に横ずれした平行光となるが、この横ずれ量のことをシャー量(シア量、shear amount)と呼ぶ。 |