(社)日本化学会(編)(1999)による〔『第4版 化学実験の安全指針』(86p)から〕


表W.6 計測機器に付随する危険性

分 類

危  険  性
機 械 回転・移動部へ挟み込まれる。重量物の転倒や落下
化 学 有害物質、引火性物質、爆発性ガス
電 気 感電。過剰負荷による発熱
光 学 紫外光、レーザー光、X線などの漏れ
高温炉の露出、液体窒素など冷媒への接触、高圧ガスの噴射、真空漏れ、出水による二次災害
その他 長時間のディスプレー直視作業で起きる眼の疲労による不注意事故、強磁場による強磁性体の飛翔

表W.7 分析機器における危険要素(法の規制を受ける)
機器の種類 光源 高電圧 化学物質 爆発・可燃性・毒性など
原子吸光分光装置   C2H2、H2、NO、Ar 火災
炎光分光装置   C2H2、H2、NO、Ar 火災
発光分光分析装置 紫外光 Ar、N2、He、O2 CNガス
蛍光X線分析装置 X線 90vol%Ar−10vol%CH4ガス  
紫外可視吸光光度計 紫外光      −  
赤外分光光度計        −  
ガスクロマトグラフ装置(ECD) β-線源 Ar、N2、He、H2 恒温槽
液体クロマトグラフ装置 高温カラム   有機溶剤 高温カラム
ポーラログラフ装置     N2、Hg  
有機元素分析装置 恒温槽   He、O2  
ECD:電子捕獲検出器


戻る